Neue Möglichkeiten der Fehlersuche auf und unter der Oberfläche durch strukturierte Laserthermografie
M. Ziegler1, J. Lecompagnon1, N.W. Pech-May1, P.D. Hirsch1, P.P. Breese1, S.J. Altenburg1, S. Oster1, T. Becker1, S. Ahmadi1, E. Thiel1, C. Maierhofer1
1: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin